「山本伸のプレミアムレポート」 ニレコ(6863)

 半導体検査装置向けに画期的なデバイスを開発したニレコ(6863・JQ)に注目したい。半導体の微細化によって検査装置もより高精度な装置が求められるようになった。半導体製造過程では微細なダストや傷などの・・・

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