東芝、外観検査による不良検知向けに、教師なしで高精度に画像をグループ化する画像分類AIを開発

株式

2021/4/30 15:57

 東芝<6502.T>は28日、製造現場における外観検査による不良検知向けに、教師なし(分類基準のラベルづけ作業なし)で高精度に画像をグループ化する画像分類AI(人工知能)を開発したと発表した。

 独自の深層学習技術により、さまざまな背景の中で撮影された一般画像の公開データにおいて、分類精度を従来技術の71.0%から95.4%に向上し、世界トップレベルの分類精度を達成した。同技術を用いることで、製造現場で撮影される外観画像において、例えば、検査対象以外の物が背景に映りこんでいるような複雑な画像でも、製品の不良や欠陥を教師なしで高精度に分類することが可能という。

 30日の終値は、前日比85円安の4515円。

提供:モーニングスター社

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