東芝、外観検査による不良検知向けに、教師なしで高精度に画像をグループ化する画像分類AIを開発

株式

2021/4/30 8:21

 東芝<6502.T>は28日、製造現場における外観検査による不良検知向けに、教師なし(分類基準のラベルづけ作業なし)で高精度に画像をグループ化する画像分類AI(人工知能)を開発したと発表した。 独自・・・

この記事は会員限定です。
会員登録すると続きをお読みいただけます。

関連記事

マーケット情報

▲ページTOPへ